第230章 生产测试（下）

为了降低生产难度，乔瑞达拿出了一款比较简单的7nm工艺三代内存芯片掩膜版，装进euv光刻机，进行生产测试。这种内存芯片，加工过程即不需要套刻，也不需要二次暴光，结构也非常的简单，算是最好的测试样品了。第一批100片12寸硅晶圆放上传送带，清洗、干燥、气相沉积底膜、旋涂光刻胶、对准与曝光、烘焙、显影……一个步骤又一个步骤的走下来，时间不知不觉间过去。

第一天投料，第二天中午的时候，加工完的晶圆才走下生产线。然后乔瑞达等人，亲自动手，将这100片带着美丽彩色花纹的晶圆，装进专用密封盒子，然后带去隔壁的芯片测试车间，进行全面的检测。

又是半个小时后，乔瑞达一脸关切的向测试人员询问道：“怎么样，芯片合格率高吗？”

这位刚刚从大学毕业的芯片检测员小姑娘，被几十位穿着白大褂的公司高层围着，还颇有几分手足无措。好在芯片的检测过程是全自动的，需要她参与的步骤并不多。小姑娘查看了一下电脑屏幕上的统计数据，向乔瑞达汇报道：“到目前为止，一共检测了32片晶圆，6400枚芯片，全部不合格。”

听到这个检测结果，众人纷纷摇头叹息，包括乔瑞达、王院士、周万达等人也不例外。从安装设备，调试设备，到现在的试生产，众人在这条芯片生产线上，已经忙碌了半个多月，那么多的金钱，那么多的精力投入下去，最终换来一个全军覆没的结果，着实让人难以接受。

“不是吧，这么先进的设备，只是用来生产最简单的内存芯片，怎么会失败呢，会不会掩膜版本身就存在缺陷？”

“谁说内存芯片就简单了，我看过乔总提供的图纸，现在测试生产的这枚内存芯片，是拥有自主知识产权的三代ddr内存，这在国内，尚属首创。”

“这枚内存芯片，技术很先进，我承认，但是它的结构确实非常的简单，比那些手机sc，电脑cpu，gpu什么的，简单了不要太多。咱们得生产线也设置的很合理，原材料和生产流程上也没有问题，没道理生产测试下来，一枚合格芯片都没有呀！”

“或许是工人对新的生产线不熟悉，操作过程中有失误吧。毕竟他们以前操作的都是使用duv光刻机的28nm生产线，和这条使用euv光刻机的7nm芯片生产线，差距还是有些大的。”

“说的有道理，操作不当确实有可能影响最终的芯片良品率。整个芯片生产流程有着几百个步骤，任何一个节点上出了问题，都会影响最后的良品率。”

“在我看来，芯片合格率为零也没什么奇怪的，这毕竟是一条全新的芯片生产线，新设备，新工艺，再加上一帮刚刚完成培训的操作工人，这么多不利因素叠加在一起，生产出来的芯片全军覆没，不是很正常吗。”

“说的也是，这次生产测试失败了也没什么，只要咱们能找出问题出现在哪里，然后在后续的测试中更正它就好。”